Numutkeun laporan média, Departemen Énergi AS (DOE) nembé ngaluarkeun laporan réliabilitas katilu na dina drive LED dumasar kana tés hirup gancangan jangka panjang. Panaliti di Departemen Énergi Solid State Lighting (SSL) Amérika Serikat yakin yén hasil pangénggalna mastikeun yén metode Accelerated Stress Testing (AST) parantos nunjukkeun prestasi anu saé dina sababaraha kaayaan anu parah. Salaku tambahan, hasil tés sareng faktor kagagalan anu diukur tiasa ngawartosan pamekar supir ngeunaan strategi anu sasuai pikeun ningkatkeun reliabilitas.
Sakumaha anu dipikanyaho, supir LED, sapertos komponén LED sorangan, penting pisan pikeun kualitas cahaya anu optimal. Desain supir anu cocog tiasa ngaleungitkeun kedip-kedip sareng nyayogikeun cahaya anu seragam. Jeung supir oge komponén paling dipikaresep dina lampu LED atawa fixtures lampu mun malfunctions. Saatos sadar pentingna drivers, DOE mimiti proyék nguji supir jangka panjang dina 2017. Proyék ieu ngalibatkeun channel tunggal jeung drivers multi-kanal, nu bisa dipaké pikeun ngalereskeun alat kayaning alur siling.
Departemen Energi AS sateuacana ngaluarkeun dua laporan ngeunaan prosés tés sareng kamajuan, sareng ayeuna laporan data tés katilu dileupaskeun, anu nyertakeun hasil tés produk anu ngajalankeun dina kaayaan AST salami 6000-7500 jam.
Nyatana, industri henteu gaduh seueur waktos pikeun nguji drive dina lingkungan operasi normal salami mangtaun-taun. Sabalikna, Departemen Énergi AS sareng kontraktor RTI International parantos nguji drive dina lingkungan anu disebut lingkungan 7575 - kalayan kalembaban jero ruangan sareng suhu sacara konsistén dijaga dina 75 ° C. Tés ieu ngalibatkeun dua tahap tés supir, henteu gumantung kana saluran. Desain tahap tunggal waragad kirang, tapi lacks sirkuit misah nu mimiti ngarobah AC ka DC lajeng ngatur arus, nu unik keur desain dua-tahap.

Laporan Departemen Energi AS nyatakeun yén dina tés anu dilakukeun dina 11 drive anu béda, sadaya drive dijalankeun salami 1000 jam dina lingkungan 7575. Nalika drive lokasina di kamar lingkungan, beban LED disambungkeun ka drive lokasina dina kaayaan lingkungan outdoor, jadi lingkungan AST ngan mangaruhan drive. DOE henteu ngahubungkeun runtime dina kaayaan AST ka runtime dina kaayaan normal. Angkatan kahiji alat gagal saatos ngajalankeun 1250 jam, sanaos sababaraha alat masih beroperasi. Saatos nguji 4800 jam, 64% alat gagal. Nanging, ningal lingkungan tés anu parah, hasil ieu parantos saé pisan.
Peneliti geus manggihan yén paling faults lumangsung dina tahap mimiti supir, utamana dina faktor kakuatan koreksi (PFC) jeung gangguan éléktromagnétik (EMI) sirkuit suprési. Dina kadua tahapan supir, MOSFET ogé ngagaduhan kasalahan. Salian nunjukkeun daérah sapertos PFC sareng MOSFET anu tiasa ningkatkeun desain supir, AST ieu ogé nunjukkeun yén kasalahan biasana tiasa diprediksi dumasar kana ngawaskeun kinerja supir. Salaku conto, ngawaskeun faktor kakuatan sareng arus surge tiasa ngadeteksi kasalahan awal sateuacanna. Paningkatan kedip-kedip ogé nunjukkeun yén gangguan bakal caket.
Pikeun lila, program SSL DOE urang geus ngalakonan nguji sarta panalungtikan penting dina widang SSL, kaasup nguji produk skenario aplikasi dina proyék Gateway jeung nguji kinerja produk komérsial dina proyék Caliper.